Mit Correlative Microscopy realisiert Quantum Design Microscopy innovative Forschungsansätze im Bereich der Mikroskopie. Durch die Kombination von Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) werden neuartige Einblicke in die... Mikro- und Nanowelt ermöglicht. Die Integration des AFM-Systems im Hochvakuum des SEM erlaubt es, in situ-Untersuchungen durchzuführen, ohne Proben transferieren oder das Vakuum brechen zu müssen. Diese Methode ermöglicht die gleichzeitige Analyse von 3D-Topografie sowie mechanischen, magnetischen und elektrischen Eigenschaften. Die Produkte AFSEM® und FusionScope® erweitern die Möglichkeiten der Mikroskopie und stellen eine wertvolle Unterstützung für gewerbliche Anwendungen dar.
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